E10-ADV能量色散型X射線熒光光譜儀
一.儀器簡介:
E10-ADV光譜是一款通用型能量色散型X射線熒光光譜儀,有著杰出的分析能力,適用于礦業(yè)、化工、學(xué)校、科研、環(huán)保等多種行業(yè)，在確保高度準(zhǔn)確的情況下能快速的分析出被樣品元素含量；設(shè)備核心光路系統(tǒng)集合國內(nèi)外幾十年EDXRF**技術(shù)，核心部件采用美國進(jìn)口，軟件算法采用美國EDXRF前沿技術(shù)，儀器所用標(biāo)準(zhǔn)樣品均有權(quán)威第三方檢查機構(gòu)報告；精密度、準(zhǔn)確度、檢出限等技術(shù)參數(shù)**超越國內(nèi)外同類儀器。
二、產(chǎn)品規(guī)格及技術(shù)特點
2.1、儀器特點：
外形特點：儀器結(jié)構(gòu)采用人體工程學(xué)設(shè)計，儀器兩側(cè)按**手臂長度設(shè)計，方便移動、搬運。表面采用**汽車噴漆工藝，采用寶藍(lán)、雅致白搭配，藍(lán)色代表科技，白色代表圣潔，寓意對科學(xué)的敬仰。
2.2、輻射防護(hù)：樣品蓋鑲嵌鉛板屏蔽及迷宮式結(jié)構(gòu)式輻射; 測試過程中誤打開樣品蓋時，電路0.1μS快速切斷X射線; 權(quán)威第三方檢測，X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源**基本標(biāo)準(zhǔn)》。
2.3、軟件技術(shù)：
分析元素：Na~U之間元素;杰出的ROHS檢測; 分析時間：60~400秒;配置RoHS檢測分析模型，無鹵分析模型;數(shù)據(jù)一鍵備份、一鍵還原，增加數(shù)據(jù)**性;操作界面簡潔，使用方便;;三種算法，增加樣品測試精準(zhǔn)度;配備開放式分析模型功能，建立工作模型;多種數(shù)據(jù)算法，根據(jù)不同基體樣品，配備不同算法，提高儀器測試精準(zhǔn)度;
三、儀器硬件配置
3.1、探測器:Si-PIN探測器（原裝進(jìn)口）; Be窗厚度：1mil; 晶體面積：25mm2;*佳分辨率：149eV;DP5處理系統(tǒng)
3.2、X射線管:電壓 0~50kV; *大電流 2.0mA; *大功率 50W; 靶材 Mo; Be窗厚度 0.5mm;壽命 大于2萬小時
3.3、高壓電源: 輸出電壓 0~50kV ; 燈絲電流 0~2mA; 紋波系數(shù) 0.1%（p-p值）; 8小時穩(wěn)定性：0.05%
3.4、攝像頭: 微焦距,免驅(qū)動,500萬像素.
3.5、準(zhǔn)直器、濾光片:快拆卸準(zhǔn)直器、濾光片系統(tǒng);多種材質(zhì)準(zhǔn)直器;光斑大小Φ0.7mm、Φ1.2mm、Φ3.0mm、Φ5.0mm
? 多種濾光片、準(zhǔn)直器組合，軟件自動切換
3.6、其他配件: 進(jìn)口高性能開關(guān)電源; 進(jìn)口低噪聲、大風(fēng)量風(fēng)扇.
四、儀器規(guī)格:
外形尺寸：380 mm* 510mm*365 mm（長*寬*高） ;樣品倉尺寸：360mm*330 mm*50 mm（長*寬*高）
儀器重量:33.5kg ; 電源：AC220V/ 50Hz ; *大功率：330W ; 工作溫度：15-30℃ 相對濕度：≤85%，不結(jié)露
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【主要規(guī)格】
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品牌
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型號規(guī)格
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E10-ADV
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測定原理
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X射線熒光光譜
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測定方法
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X射線熒光光譜法
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測定對象
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固體（包括塊狀、顆粒、粉末），液體（包括腐蝕性液體）
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可測定元素數(shù)量范圍
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11#Na ~ 92#U
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支持語言
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中文、繁體中文、英文
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篩選分析定量方法
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定性、部分元素定量分析
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樣品觀測系統(tǒng)
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500萬像素高清微焦距CCD
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檢測效率
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●開機預(yù)熱、關(guān)機時間
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無需預(yù)熱（關(guān)機3小時內(nèi)）或13分鐘；無等待關(guān)機
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測試時間
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60 ~ 200秒（根據(jù)客戶需求設(shè)置）
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使用輻射量
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不高于 (環(huán)境本底+0.10)μSv/h
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豁免證書
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中華人民共和國環(huán)境保護(hù)部頒發(fā)：《輻射**許可證》
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標(biāo)樣數(shù)量(免費)
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歐盟EC680k一片，EC681k一片，純銀標(biāo)樣一片
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【X射線工作方式】
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X射線管自動老化功能
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有，軟件控制自動老化
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X射線管壽命
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20000小時，2年保修
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X射線管電壓
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0 ~ 50kV
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X射線照射直徑
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0.08mm、0.1mm、0.3mm、0.7mm、1.2mm、2mm、5mm、7 mm軟件 8檔自動選擇
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X射線濾光片
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7種濾光片，軟件自動切換
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【檢測器】
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檢測器/產(chǎn)地
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X-123 Si-PIN 半導(dǎo)體探測器，產(chǎn)地美國
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檢測器冷卻方式
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自動電制冷，無需液氮等耗材
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● 檢測器分辨率
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125eV（數(shù)據(jù)越小分辨率越高）
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● 紋波系數(shù)
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0.05%（p-p值）
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● 穩(wěn)定性
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8小時穩(wěn)定性：0.03%
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● 重復(fù)性
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重復(fù)性：<0.08%
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【軟件】
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智能篩選分析
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軟件自動篩選，生成報告
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定性分析 定量分析
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均可
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應(yīng)用性
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操作人員經(jīng)培訓(xùn)可自行新建分析模型，軟件擴(kuò)展應(yīng)用性強
**一鍵備份、一鍵還原功能，**保護(hù)數(shù)據(jù)
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可編輯性
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分析模型可自由編輯
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標(biāo)準(zhǔn)樣品
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內(nèi)置美國Calmetrics+UPA等進(jìn)口標(biāo)準(zhǔn)樣品
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軟件后續(xù)升級
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終身免費升級
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**性
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1、樣品蓋鑲嵌鉛板+鉛玻璃屏蔽X射線。2、輻射標(biāo)志警示。3、迷宮式結(jié)構(gòu)，防止射線泄漏。● 4、**連鎖設(shè)計；測試過程中誤打開樣品蓋時，電路0.05μS快速切斷X射線。
5、X射線劑量率完全符合GB18871-2002《電離輻射防護(hù)與輻射源**基本標(biāo)準(zhǔn)》。
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樣品共存元素自動補正
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軟件自動校正
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【售后服務(wù)】
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整機二年保修,終身提供技術(shù)服務(wù)支持。保修期內(nèi)的非人為因素儀器損壞，免費維修。
標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)時間：4小時響應(yīng)，48小時內(nèi)****時間，24小時技術(shù)支持。
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【其他】
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補正功能
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軟件全自動校正
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耗件
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樣品膜由禾苗分析儀器免費提供
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保質(zhì)期外耗件采購
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按進(jìn)價供貨，可提供原始進(jìn)貨發(fā)票，絕不賺取差價。
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【優(yōu)勢】
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同行業(yè)對比
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1、多種數(shù)據(jù)算法，根據(jù)不同基體樣品，配備不同算法，提高儀器測試精準(zhǔn)度。
2、超短光路設(shè)計，提高鍍層檢測分辨率，提高樣品分析效率，降低光管功率，延長儀器使用壽命。
3、人性化的軟件界面與操作方法，擁有數(shù)據(jù)一鍵備份、一鍵還原功能，增加數(shù)據(jù)**性，**滿足用戶需求；
4、所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、二元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試，同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
5、模塊化準(zhǔn)直器，根據(jù)分析元素，配備不同材質(zhì)準(zhǔn)直器，從而降低準(zhǔn)直器對分析元素的影響，提高元素分辨率。
6、空氣動力學(xué)設(shè)計，加速光管冷卻，有效降低儀器內(nèi)部溫度；靜音設(shè)計。
7、提供開放式工作曲線平臺，用戶可通過技術(shù)工程師協(xié)助下自由配置工作曲線以及任意添加標(biāo)樣數(shù)據(jù)，以滿足更高精度的要求，或適應(yīng)環(huán)保指令的后期擴(kuò)展；
8、快拆卸樣品臺，換薄膜更方便。
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